所属行业
半导体 / 集成电路
项目案例
面向半导体 / 集成电路场景的精密测量工位,通过 2D 视觉完成探针落点定位与来料姿态纠偏, 提高电压测试环节的稳定性和一致性。
半导体 / 集成电路
探针落点定位、姿态纠偏、电压测试辅助
2D 智能相机、视觉算法、工装配合
在精密电子测试场景中,被测件尺寸小、引脚密、反光复杂,传统人工校准方式容易带来定位偏差, 进而影响探针接触稳定性和测试一致性。
方案设计
方案采用 2D 智能相机获取被测件图像,通过定位算法识别关键特征点, 输出实时坐标与角度补偿信息,联动双探针机构完成精准落点。 同时引入异常判定逻辑,对偏位、缺件和姿态异常来料进行提前拦截。
结合节拍、定位精度、误测率改善等量化结果, 可进一步呈现测试站布局和实施前后对比数据。